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摘要

上世纪80年代初扫描隧道显微镜的发明使得人们在实空间观测物质结构的分辨率能够达到原子级精度。在这30多年的时间里，扫描隧道显微镜与低温、强磁场、光学等各种技术相结合，其功能变得越来越强大，可以在原子尺度上测量材料表面的态密度，可以操纵单个的原子或分子，可以探测单个原子、分子的自旋或发射的光子，可以分辨原子间的化学键等等。另外，目前能够实现原子级精度的生长技术是分子束外延技术，它是上世纪60年代末发明，现在被广泛地应用到半导体、氧化物和金属等薄膜材料的制备中。有原子级分辨率的扫描隧道显微镜和有原子级精度可控生长的分子束外延生长技术相结合始于上世纪90年代初，在这20多年的时间里，各种新材料层出不穷，而该联合系统已经用大量的实验结果证明，在对这些新材料及其纳米结构的研究中发挥着至关重要的作用。报告人将分享自己8年使用扫描隧道显微镜及分子束外延联合超高真空系统的科研经历，介绍拓扑绝缘体薄膜，一维石墨烯纳米带，零维纳米颗粒等各种低维纳米结构的科研成果。

邀请人：贾金锋 jfjia@sjtu.edu.cn

联系人：杨洋 catherinecherry@sjtu.edu.cn

报告人简介

李耀义，2005年本科毕业于武汉大学物理科学与技术学院物理基地班，2011年获清华大学物理系博士学位。2011年至今四年时间在美国威斯康辛大学物理系任职博士后研究助理。利用扫描隧道显微镜分子束外延联合系统，主要从事拓扑绝缘体、石墨烯等新兴材料的表面低维纳米结构的研究。近五年在Advanced Materials、Nature Physics、Nature Communications、Physical Review Letters这些国际权威期刊发表高影响因子文章7篇。